Книга: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов «Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. Гриф УМО ВУЗов России»

Производитель: "Флинта, Наука"

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов. ISBN:978-5-9765-0207-9

Издательство: "Флинта, Наука" (2007)

ISBN: 978-5-9765-0207-9