Книга: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов «Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей»
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов. Издательство: "Флинта, Наука" (2007) Формат: 60x88/16, 224 стр.
ISBN: 978-5-9765-0207-9, 978-5-02-034811-0 Купить за 223 руб на Озоне |
Другие книги схожей тематики:
Автор | Книга | Описание | Год | Цена | Тип книги |
---|---|---|---|---|---|
Батаев В., Батаев А. и др. | Методы структурного анализа матер и контр кач детал | В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного… — (формат: Твердая бумажная, 224 стр.) Подробнее... | 2007 | 288 | бумажная книга |