Электронная книга: Геннадий Кузнецов «Методики определения параметров вакуумных систем»
|
Лабораторный практикум выполняется по курсу «Вакуумная техника». В нем рассматриваются методики определения параметров работы форвакуумных насосов, их устройство и режимы их эксплуатации. Описаны устройства для измерения вакуума и определения его параметров. Приводится методика определения параметров вакуумных систем, имеющих различный рабочий объем и межсоединения. Дается методика работы с вакуумметрами различного типа; рассматриваются методики создания высокого вакуума с применением диффузионных насосов и систем безмасляной откачки; анализируются особенности конструкций систем откачки; приводятся методики определения быстроты достижения сверхвысокого вакуума и способы его измерения; дается описание методики определения натекания в вакуумной системе с помощью стандартных систем течеискателей. Издательство: "МИСиС" (2002)
электронная книга Купить за 316 руб и скачать на Litres |
Другие книги автора:
| Книга | Описание | Год | Цена | Тип книги |
|---|---|---|---|---|
| Дорога длиною в жизнь | "Безопасное" вождение-это система четких правил управления транспортным средством, созданная на основе… — Нобель Пресс, - Подробнее... | бумажная книга | ||
| Дорога длиною в жизнь | `Безопасное`вождение-это система четких правил управления транспортным средством, созданная на основе… — Нобель Пресс, Подробнее... | бумажная книга | ||
| Конструирование компонентов и элементов микро- и наноэлектроники. Компьютерное моделирование оптоэлектронных приборов | В пособии излагаются теоретические основы работы программы SimWindows 1.5, предназначенной для моделирования… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Вакуумная и плазменная электроника | Лабораторный практикум выполняется по курсу «Вакуумная и плазменная электроника». В нем рассматриваются… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Вакуумная и плазменная электроника | Рассматриваются физические основы вакуумной и плазменной электроники и основные направления их… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Микро- и нанотехнологии пленочных гетерокомпозиций | В курсе лекций рассматриваются принципы построения, организации и функционирования наноразмерных… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Микроэлектроника. Компьютерное моделирование параметров полупроводниковых компонентов микроэлектроники | В данном пособии излагаются теоретические основы работы программы SimWindows 1.5, предназначенной для… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике | Практикум состоит из пяти лабораторных работ, выполнение которых позволит получить достаточно полное… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Расчеты параметров взаимодействия ускоренных ионов с твердым телом | В данном пособии приводятся расчеты взаимодействия ускоренных ионов с твердым телом. Обсуждаются… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Технология материалов электронной техники. Атомно-молекулярные процессы кристаллизации | Рассматриваются теоретические вопросы процессов роста объемных монокристаллов и пленок на… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга | ||
| Элионная технология в микро- и наноиндустрии. Неразрушающие методы контроля процессов осаждения и травления наноразмерных пленочных гетерокомпозиций | В учебном пособии рассматриваются неразрушающие методы контроля технологических процессов нанесения и… — МИСиС, электронная книга Подробнее... | электронная книга |
См. также в других словарях:
показатель — 3.7 показатель (indicator): Мера измерения, дающая качественную или количественную оценку определенных атрибутов, выведенную на основе аналитической модели, разработанной для определенных информационных потребностей. Источник … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
параметр — 3.4 параметр: Одно из измеряемых свойств испытуемого материала. Источник: ГОСТ Р 52205 2004: Угли каменные. Метод спектрометрического определения генетических и технологических параметров … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
