Книга: Я. С. Уманский «Рентгенография металлов и полупроводников»
|
Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской спектроскопии, рентгеновской и гамма-дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма-лучей. Допущено Министерством высшего и среднего специального образования СССР в качестве учебного пособия для студентов металлургических специальностей высших учебных заведений и может быть полезна инженерам-исследователям, работающим в области технологии металлических сплавов полупроводниковых материалов. Издательство: "Металлургия" (1969) Формат: 60x90/16, 496 стр.
Купить за 510 руб на Озоне |
Другие книги схожей тематики:
| Автор | Книга | Описание | Год | Цена | Тип книги |
|---|
См. также в других словарях:
РЕНТГЕНОГРАФИЯ МАТЕРИАЛОВ — область исследований, занимающаяся решением разнообразных задач материаловедения на основе рентг. дифракц. методов (см. ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ, РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ). В Р. м. исследуют как равновесные, так и неравновесные… … Физическая энциклопедия
Рентгенография материалов — область исследований, занимающаяся решением разнообразных задач материаловедения на основе рентгеновских дифракционных методов. В Р. м. исследуют как равновесные, так и неравновесные состояния материалов; изучают их кристаллическую… … Большая советская энциклопедия
Рентгеновская микроскопия — совокупность методов исследования микроскопического строения объектов с помощью рентгеновского излучения. В Р. м. используют специальные приборы рентгеновские микроскопы. Их предел разрешения может быть на 2 3 порядка выше, чем световых,… … Большая советская энциклопедия
Рентгеновская микроскопия — Рентгеновский микроскоп устройство для исследования очень малых объектов, размеры которых сопоставимы с длиной рентгеновской волны. Основан на использовании электромагнитного излучения с длиной волны от 0,01 до 1 нанометра. Рентгеновские… … Википедия
Рентгеновский микроскоп — Рентгеновский микроскоп устройство для исследования очень малых объектов, размеры которых сопоставимы с длиной рентгеновской волны. Основан на использовании электромагнитного излучения с длиной волны от 0,01 до 1 нанометра. Рентгеновские… … Википедия
Микроскоп рентгеновский — Рентгеновский микроскоп устройство для исследования очень малых объектов, размеры которых сопоставимы с длиной рентгеновской волны. Основан на использовании электромагнитного излучения с длиной волны от 0,01 до 1 нанометра. Рентгеновские… … Википедия
