Книга: «Сфокусированный ионный пучок»
|
Сфокусированный (фокусированный) ионный пучок (СИП или ФИП) (англ. Focused ion beam (FIB)) — широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, напыления и травления материалов. Установка для ионного травления напоминает растровый электронный микроскоп. В электронном микроскопе используется пучок электронов, тогда как в СИП применяют более тяжелые частицы — ионы (с большей кинетической энергией). Бывают установки, использующие оба вида пучков. Не следует путать СИП с устройством для литографии, где также используется ионный пучок, но слабой интенсивности, а в травлении основным является свойства самого резиста. Данное издание представляет собой компиляцию сведений, находящихся в свободном доступе в среде Интернет в целом, и в информационном сетевом ресурсе "Википедия" в частности. Собранная по частотным запросам указанной тематики, данная компиляция построена по принципу подбора близких информационных ссылок, не имеет самостоятельного сюжета, не содержит никаких аналитических материалов, выводов, оценок морального, этического, политического, религиозного и мировоззренческого характерав отношении главной тематики, представляя собой исключительно фактологический материал. Издательство: "Книга по Требованию" (2013)
ISBN: 978-5-5095-3998-5 |
См. также в других словарях:
Сфокусированный ионный пучок — Сфокусированный (фокусированный) ионный пучок (СИП или ФИП) (англ. Focused ion beam (FIB)) широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, н … Википедия
фокусированный ионный пучок — Термин фокусированный ионный пучок Термин на английском focused ion beam Синонимы Аббревиатуры FIB Связанные термины Определение концентрированный поток ионов, который используют в современных исследовательских приборах и технике для интенсивной… … Энциклопедический словарь нанотехнологий
Сканирующий гелиевый ионный микроскоп — Сканирующий ионный гелиевый микроскоп (СИГМ) сканирующий (растровый) микроскоп, по принципу работы аналогичный сканирующему электронному микроскопу, но использующий вместо электронов пучок ионов гелия. Содержание 1 Источник ионов 2 Оптика … Википедия
FIB — Сфокусированный ионный пучок Федерация международного бенди фр. Fédération Internationale du Béton … Википедия
Растровый электронный микроскоп — … Википедия
Дифракция отражённых электронов — Картина, полученная методом дифракции отражённых электронов (National Institute of Standards and Technology Materials Reliability Division) … Википедия
