Книга: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов «Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей»

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.

Издательство: "Флинта, Наука" (2007)

Формат: 60x88/16, 224 стр.

ISBN: 978-5-9765-0207-9, 978-5-02-034811-0

Купить за 223 руб на Озоне