Книга: А.А. Батаев,В.А. Батаев,А.П. Алхимов «Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей»
|
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей.... Издательство: "Флинта" (2007) Формат: твердая обложка, 224 стр.
ISBN: 978-5-9765-0207-9 |
Другие книги схожей тематики:
| Автор | Книга | Описание | Год | Цена | Тип книги |
|---|---|---|---|---|---|
| В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов | Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей | В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного… — Флинта, Наука, (формат: 60x88/16, 224 стр.) Подробнее... | 2007 | 223 | бумажная книга |
| Батаев В., Батаев А. и др. | Методы структурного анализа матер и контр кач детал | В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного… — (формат: Твердая бумажная, 224 стр.) Подробнее... | 2007 | 288 | бумажная книга |
